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吉時(shí)利6514在納米發(fā)電機(jī)測試中的應(yīng)用1.什么是納米發(fā)電機(jī) 納米發(fā)電機(jī)是基于規(guī)則的氧化鋅納米線，在納米范圍內(nèi)將機(jī)械能轉(zhuǎn)化成電能，是世界上最小的發(fā)電機(jī)。 目前納米發(fā)電機(jī)可以分為三類:壓電納米發(fā)發(fā)布時(shí)間：2024-02-27
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R&S?SMW200A矢量信號(hào)發(fā)生器在EVM誤差矢量幅度測試應(yīng)用EVM是ErrorVectorMagnitude的縮寫，中文意思就是誤差矢量幅度。 誤差矢量幅度（errorvectormagnitude）EVM是指理在發(fā)布時(shí)間：2024-02-26
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同惠TH9310耐壓測試儀測試方案耐壓測試是檢測電氣設(shè)備、電氣裝置、電氣線路和電工安全用具等承受過電壓的能力的主要方法之一，比如：變壓器耐壓試驗(yàn)等，是對(duì)所有絕緣材料的絕緣強(qiáng)度的考驗(yàn)。 耐壓發(fā)布時(shí)間：2024-01-30
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紅外熱像儀微距測試應(yīng)用方案問題： 近日遇到測試微小樣品上的溫度變化情況的相關(guān)測試。 問題分析: 客戶樣品比較微小，樣品在加熱臺(tái)上加熱后，需要判斷樣品上不同位置幾十微米間的溫度變發(fā)布時(shí)間：2024-01-29
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憶阻器測試方案問題：客戶做憶阻器相關(guān)測試，需要搭配一套方案滿足測試需求 問題分析: 憶阻器測試流程熟悉： 作為存儲(chǔ)器，憶阻器同樣有“置0”和“置1”及讀操作，只不過發(fā)布時(shí)間：2024-01-29
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吉時(shí)利2400源表在PIN硅輻射探測IV曲線測試應(yīng)用近日，有客戶找到我們需要測PIN的IV特性，客戶反饋了解過吉時(shí)利2400系列源表測試會(huì)出現(xiàn)屏幕無法顯示曲線問題，了解客戶需求后，為了更好的完成測試，我們及時(shí)發(fā)布時(shí)間：2024-01-26
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吉時(shí)利靜電計(jì)6517B在電荷測量中的應(yīng)用靜電計(jì)是一種廣泛應(yīng)用于電荷測量的儀器，而吉時(shí)利6517B型靜電計(jì)則是其中的一款先進(jìn)設(shè)備。本文將介紹吉時(shí)利6517B型靜電計(jì)的原理、特點(diǎn)，以及其在電荷測量領(lǐng)域發(fā)布時(shí)間：2024-01-19
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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在功率測量中的應(yīng)用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VectorNetworkAnalyzer，簡稱VNA）是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，主要用于測量和分析電路中的信號(hào)傳輸、散射參數(shù)等。然而發(fā)布時(shí)間：2024-01-19
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同惠TH2851在土壤低頻介電常數(shù)測試方案諸如巖石或粘土之類的土壤材料具有電學(xué)和機(jī)械特性，也與其他物質(zhì)具有相同的特性。它們通常具有絕緣和小導(dǎo)電性，被稱為“介電”材料，它們的特征是它們的介電常數(shù)或介電發(fā)布時(shí)間：2024-01-16
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普源DS70000示波器在波形刷新率測試方案波形刷新率又叫波形捕獲率，指的是每秒鐘波形刷新的次數(shù)，表示為波形數(shù)每秒（wfms/s），波形刷新率越高，捕獲異常信號(hào)的概率越大。有人會(huì)覺得好奇，屏幕刷新一般發(fā)布時(shí)間：2024-01-16
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吉時(shí)利DAQ6510在電動(dòng)汽車電池內(nèi)阻測試的應(yīng)用電池技術(shù)的發(fā)展 隨著世界各國都在努力降低碳排量，電動(dòng)汽車(EV)的市場容量正不斷擴(kuò)大。推動(dòng)這一增長的關(guān)鍵因素將是如何最大限度地減少電動(dòng)汽車動(dòng)力系統(tǒng)的開關(guān)損發(fā)布時(shí)間：2024-01-05
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吉時(shí)利2450在寬禁帶半導(dǎo)體及靜態(tài)測試方案1.什么是寬禁帶半導(dǎo)體 第三代半導(dǎo)體（本文以SiC和GaN為主）又稱寬禁帶半導(dǎo)體，禁帶寬度在2.2eV以上，具有高擊穿電場、高飽和電子速度、高熱導(dǎo)率、高電發(fā)布時(shí)間：2023-12-28
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同惠TH2851阻抗分析儀在微機(jī)電系統(tǒng)mems測試應(yīng)用MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))是一種基于CMOS工藝的集成技術(shù)。它將傳感器/微處理器/信號(hào)處理與控制集于一體，有效縮小了系統(tǒng)的體積，是一種先進(jìn)的加工技術(shù)。 MEM發(fā)布時(shí)間：2023-12-28
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示波器在浪涌測試中的應(yīng)用浪涌又稱電涌，定義是超過相應(yīng)穩(wěn)定的電壓峰值的任何電壓峰值，即瞬變電壓。瞬間的高電壓導(dǎo)流導(dǎo)通，當(dāng)電壓及電流高于正常值的雙倍時(shí)，稱之為浪涌。 產(chǎn)生浪涌的原因是發(fā)布時(shí)間：2023-11-28
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吉時(shí)利2600b在憶阻器基礎(chǔ)研究測試的應(yīng)用憶阻器是一種具有電荷記憶功能的非線性電阻，通過控制電流的變化可改變其阻值，自從2008年HP公司制備出了憶阻器，科學(xué)家們意識(shí)到憶阻器的優(yōu)勢和作用，所以現(xiàn)在也有很多院所開始進(jìn)行憶阻器的研究 憶阻器...發(fā)布時(shí)間：2023-11-01
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吉時(shí)利DMM7510在智能可穿戴設(shè)備待機(jī)功耗測試方案近幾年可穿戴設(shè)備逐漸成為一個(gè)熱詞，從智能手環(huán)到健身腕帶，再到VR眼鏡，這些產(chǎn)品將數(shù)字智能時(shí)代尖端的科技呈現(xiàn)在我們面前。但可時(shí)至今日，可穿戴設(shè)備的技術(shù)挑戰(zhàn)依然久久沒能攻破，續(xù)航能力差造成用戶體驗(yàn)不友...發(fā)布時(shí)間：2023-11-01
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泰克MSO5B系示波器在智能汽車電源環(huán)路響應(yīng)測試的應(yīng)用隨著汽車智能化程度不斷提升，與之密切相關(guān)的智能座艙和自動(dòng)駕駛功能對(duì)芯片的算力要求越來越高。伴隨芯片算力的持續(xù)提升其功耗也在不斷增加，面臨的場景也更加復(fù)雜多變，但市場卻需要盡可能的降低整體功耗，以延...發(fā)布時(shí)間：2023-10-23
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邏輯芯片部分功能檢測測試方案芯片功能測試是電子產(chǎn)品制造過程中的一項(xiàng)重要步驟。它包括以下多個(gè)方面的測試，其中邏輯測試是比較重要的一部分：它包括功能測試、時(shí)序測試、性能測試、穩(wěn)定性測試等，主要通過檢測芯片內(nèi)部的邏輯電路是否正確、...發(fā)布時(shí)間：2023-10-07
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吉時(shí)利6517B在測試光電倍增管暗電流的應(yīng)用在科學(xué)研究和工程應(yīng)用中，經(jīng)常需要測量微弱的光信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，光電倍增管是一種真空電子器件，在光學(xué)測量儀器和光譜分析儀器中發(fā)揮著關(guān)鍵作用，它可以用于測量波長在200至1200納米范圍內(nèi)的非常微弱...發(fā)布時(shí)間：2023-09-21
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是德示波器在太陽能電池測試的應(yīng)用當(dāng)談到太陽能電池的測試和性能評(píng)估時(shí)，數(shù)字儀器中的一種重要工具是示波器。是德示波器?在這方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用，為工程師們提供了一種精確、可靠的方法來監(jiān)測和分析太陽能電池的輸出特性。發(fā)布時(shí)間：2023-08-30
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