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SU8230冷場發(fā)射掃描電鏡

設(shè)備簡介：

日立SU8200系列冷場掃描電鏡采用新設(shè)計(jì)的冷場發(fā)射電子槍，其不僅完全秉承以往冷場發(fā)射掃描電鏡全部優(yōu)點(diǎn)，還大幅提高了探針電流，并大大增強(qiáng)了電流的穩(wěn)定性。這些優(yōu)點(diǎn)使得在低加速電壓下，可長時間連續(xù)實(shí)現(xiàn)高分辨觀察和分析功能。

主要參數(shù)：

放大倍數(shù)：100×~1000000×(高倍模式)，20×~2000×(低倍模式);

電子槍：冷場發(fā)射;真空系統(tǒng)：10^-9(離子泵)

分辨率：0.7nm@1kV，0.6nm@15kV，加速電壓：0.5~30kV，著陸電壓0.01~2kV

能譜分辨率：127ev

測試項(xiàng)目：

觀察和檢測非均相有機(jī)、無機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析

樣品要求：

(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品，每個樣品的質(zhì)量不得超過100g，高度不超過2 cm。

(2)對于隱瞞樣品信息而造成設(shè)備故障或損壞的，中心要求用戶或用戶課題組承擔(dān)相應(yīng)的維修費(fèi)和誤工費(fèi)。

測試時間：

1~2周

測試結(jié)果類型：

tif、word或PDF格式