- 詳細(xì)說明
- 產(chǎn)品手冊
產(chǎn)品概要
支持Sic/Gan晶圓測試，大功率晶圓測試； 更換Chuck設(shè)計，可針對不同晶圓測試； 可與儀器儀表系統(tǒng)進行集成； 可升級高低溫測試環(huán)境測試
應(yīng)用方向
晶圓測試、各類器件、Wafer等進行I-V、C-V、光信號、RF、1/f噪聲等特性分析、射頻測試等
技術(shù)支持
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