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4"~12" 高溫測試測量探針臺系統
特點/應用
◆ 最大可用于12英寸以內樣品測試
◆ 4/6/8/12英寸均可升級高溫探針臺
◆ 同軸絲杠傳動結構,線性移動
◆ 可滿足500度高溫測試
◆ 溫度穩定性高
◆ 兼容IV/CV/RF測試
◆ 結構設計簡單合理,操作方便
◆ 探針臺可根據客戶要求定制
可選附件:水冷裝置 顯示器 轉接頭 射頻測試配件 屏蔽箱 光學平臺 鍍金卡盤 光電測試配件 高壓測試配件 顯微鏡快速傾仰裝置 激光系統 探針卡夾具
規格及設計如有更改,恕不另行通知。
技術支持